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Ein gestochen scharfes Bild über die ganze Bildebene

Erweiterte Tiefenschärfe  EDF   (Extended depth of Field)

Je höher die Auflösung, desto geringer ist oft die Tiefenschärfe bei Mikroskopen. Von nicht bewegten Objekten unter dem Mikroskop können aber mehrere Bilder mit unterschiedlicher Fokusebene gemacht werden. Problemlos funktioniert das mit Scope-Pro dem Automatisierungs-Plug-In für Mikroskope mit Image-Pro. Sie lösen dabei manuell die Bilderfassung aus, oder lassen sich automatisch einen Z-Stack erfassen.
Anschließend können Sie mit EDF (Extended depth of Field) durch einen Mausklick, die scharfen Bildanteile aufeinander folgender Fokusebenen in ein Bild zusammenrechnen lassen. Dabei können die Einzelbilder frei kombiniert werden.
Das Ergebnis ist ein gestochen scharfes Bild über die ganze Bildebene. Damit haben Sie die besten Voraussetzungen um anschließend eine exakte Analyse zu erstellen.

Durch die diversen Möglichkeiten in der Anwendung sind auch weitere Anwendungsfälle denkbar.


 
bulletKleinstteilefertigung in der Industrie
bulletOberflächenanalyse in der Metallographie
bulletMikrochipstrukturen in der Halbleiterindustrie
bulletZellanalyse in der Histologie und Zytologie
 
 
© 2003 WEISS IMAGING AND SOLUTIONS GmbH
Stand: 08. Februar 2012
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<META NAME="author" CONTENT="Ernst Weiss">
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